Порогові енергії дисоціативної іонізації молекули гексафториду сірки електронним ударом

Abstract

Коротко розглянуто основні механізми утворення іонізованих фрагментів реакції дисоціативної іонізації молекули гексафториду сірки (SF6) в результаті взаємодії з електронами низьких (<150 еВ) енергій. Проаналізовано виявлену раніше експериментально практично лінійну залежність абсолютних величин енергій появи фрагментів від числа атомів фтору. Встановлено можливі при- чини відхилення абсолютних значень енергій появи деяких фрагментів від вказаної лінійної залежності.

Basic mechanisms of ionized fragment formation in dissociative ionization of sulfur hexafluoride (SF6) molecule due to low-energy (<150 eV) electron impact have been briefly analyzed. Nearly linear dependence of the absolute appearance energies for the fragments on the number of fluorine atoms observed earlier experimentally has been analyzed. Possible causes of deviation of absolute values of appearance energies for certain fragments from the above linear dependence are discussed.