Одночастинковий підхід до проблеми С2-фрагментації іонів фулерену С60q+(q=1,2,3) електронним ударом

Abstract

У даній роботі оцінена можливість пояснення C2-фрагментації іонів фулерену C60q+ (q = 1, 2, 3) електронним ударом у рамках „одночастинкового” підходу, на основі розрахунків перерізів розсіяння е − C. При цьому перерізи прямої іонізації обчислювалися за формулою Лотца для оболонок 2p, 2s та подвійної іонізації з 2p-оболонки. Сумарний переріз збудження з основного стану вуглецю 2s22p2 3P у 27 вище розміщених станів був розрахований методом R-матриці з B-сплайнами.