Перегляд зібрання за групою - Автори Shylenko, O.I.
Результати 1 до 2 із 2
| Дата випуску | Назва | Автор(и) |
| 2020 | Electron-Beam Recording of Surface Structures on As-S-Se Chalcogenide Thin Films | Revutska, L.O.; Shylenko, O.I.; Stronski, A.V.; Komanicky, V.; Bilanych, V.S. |
| 2020 | The formation of surface nanostructures on As-S-Ge chalcogenide film after e-beam exposure | Revutska, L.O.; Shylenko, O.I.; Stronski, A.V.; Komanicky, V.; Bilanych, V.S. |
