Матричний метод дослідження впливу неоднорідностей компонент короткоперіодних структур на їх характеристики

Abstract

На основі матричного методу розроблені теоретичні основи і приведені результати математичного моделювання короткоперіодних структур з перехідним шаром в високозаломлюючій компоненті. Знявлено, що спектральні характеристики четверть- і напівхвильвих шарів при ступінчатому, лінійному, квадратичному, логарифмічному характері розподілу показника заломлення в перехідній соласті, суттєво відрізняються від таких для випадку ідеальних різких меж плівка-підкладка.

Based on matrix method the theoretical fundamentals are developed and results of mathematical modeling of short period structures with a transitional region of high refractive index component are indicated. Is established hat spectral properties of quarter and half-wave films with step, linear, quadratic and logarithmic distribution ct refraction index in transitional region, essentially differ from those for case ideal film-substrate boundaries.