Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/49119Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Zhikharev, V. N. | - |
| dc.contributor.author | Kozak, M. I. | - |
| dc.contributor.author | Shiposh, Yu.І. | - |
| dc.date.accessioned | 2023-03-16T21:02:08Z | - |
| dc.date.available | 2023-03-16T21:02:08Z | - |
| dc.date.issued | 2019-10 | - |
| dc.identifier.citation | V.N.Zhikharev, M.I.Kozak, Yu.I.Shiposh. Effect of X-ray and β-irradiation on the refractive index of complex chalcogenides glasses // VIII International seminar "Properties of ferroelectric and superionic systems" Ukraine, Uzhhorod, 29-30 October, 2019, р.102-104. | uk |
| dc.identifier.uri | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/49119 | - |
| dc.description | We investigated samples of glass Sb24Se60Ge16 and Sb20Se60Ge20, before and after X-ray irradiation, and samples (As2S3)1-X(AsI3)X (X = 0.04; 0.05; 0.07; 0.08; 0.1; 0.2; 0.3) before and after β-irradiation with eight doses. | uk |
| dc.description.abstract | The effect of irradiation dose on the refractive index and thickness of the surface film (n1, k1, d) and sample volume (n2, k2) were investigated. The refractive index n and extinction k were determined using an LEF-3M ellipsometer with a Ne-Ne laser (λ = 632.8 nm). | uk |
| dc.language.iso | en | uk |
| dc.publisher | Ужгород УжНУ | uk |
| dc.subject | refractive index, ellipsometric method | uk |
| dc.title | Effect of X-ray and β-irradiation on the refractive index of complex chalcogenides glasses | uk |
| dc.type | Text | uk |
| dc.type | Dataset | uk |
| dc.type | Image | uk |
| dc.pubType | Стаття | uk |
| Располагается в коллекциях: | Наукові публікації кафедри фізики напівпровідників | |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Жихарев-Козак-Шіпош Effect of X-Rey.pdf | стаття | 658.99 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.