Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/61510
Повний запис метаданих
Поле DCЗначенняМова
dc.contributor.authorVysochanskii, Yulian-
dc.contributor.authorMolnar, Alexander-
dc.contributor.authorKhoma, M.M.-
dc.date.accessioned2024-04-26T08:40:32Z-
dc.date.available2024-04-26T08:40:32Z-
dc.date.issued1999-
dc.identifier.citationInfluence of defects and conductivity on the Phase Transitions and the domain structure properties in ferroelectric-semiconductors Sn2P2S(Se)6 / Yu. M. Vysochanskii, A. A. Molnar, M. M. Khoma. // Ferroelectrics. – 1999. – Vol. 223. – PP. 19–26.uk
dc.identifier.issnhttps://doi.org/10.1080/00150199908260548-
dc.identifier.urihttps://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/61510-
dc.descriptionThe intluence oа the static defects and charge carriers on the dielectric permeability temperature anoninlies at the phase transitions (FT) from paraelectric phase to incomniensurnte (1'2) phase and from IC phase to ferroelectric one has been determined for Sn2P2S(Se), crystals. For these crystals with controlled content of impurities the memory effect recording in IC phase was compared with the dielectric output of the domain walls in ferroelectric phase. The experimental data are analyzed in the mean-field approximation.uk
dc.description.abstractThe intluence oа the static defects and charge carriers on the dielectric permeability temperature anoninlies at the phase transitions (FT) from paraelectric phase to incomniensurnte (1'2) phase and from IC phase to ferroelectric one has been determined for Sn2P2S(Se), crystals. For these crystals with controlled content of impurities the memory effect recording in IC phase was compared with the dielectric output of the domain walls in ferroelectric phase. The experimental data are analyzed in the mean-field approximation.uk
dc.language.isoenuk
dc.publisherGordon and Breach Scienceuk
dc.subjectFerroelectrics-semiconductorsuk
dc.subjectdomainsuk
dc.subjectincommensurate phaseuk
dc.subjectthermal memoryuk
dc.titleInfluence of defects and conductivity on the Phase Transitions and the domain structure properties in ferroelectric-semiconductors Sn2P2S(Se)6uk
dc.typeTextuk
dc.pubTypeСтаттяuk
Розташовується у зібраннях:Наукові публікації кафедри фізики напівпровідників

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
1999_Ferroelectrics_223.pdfarticle351.51 kBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.