Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/6470
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Ізай, Віталій Юрійович | - |
dc.contributor.author | Студеняк, Ігор Петрович | - |
dc.contributor.author | Ворохта, М. | - |
dc.contributor.author | Матолін, В. | - |
dc.contributor.author | Куш, П. | - |
dc.contributor.author | Плеценік, А. | - |
dc.contributor.author | Загоран, М. | - |
dc.contributor.author | Роч, Т. | - |
dc.contributor.author | Грегуш, Я. | - |
dc.date.accessioned | 2016-02-01T13:36:15Z | - |
dc.date.available | 2016-02-01T13:36:15Z | - |
dc.date.issued | 2011 | - |
dc.identifier.citation | Вплив іонної імплантації на оптичні параметри тонких плівок Cu6PS5I / В. Ю. Ізай, І. П. Студеняк, М. Ворохта та ін. // Науковий вісник Ужгородського університету : Серія: Фізика / Редкол.: В. Різак, В. Біланич, Ю. Височанський, О. Грабар. – Ужгород: Видавництво УжНУ «Говерла», 2011. – Вип.30. – С. 74–79. – Бібліогр.: с. 78 (10 назв). | uk |
dc.identifier.uri | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/6470 | - |
dc.description.abstract | Проведено іонну імплантацію сіркою та фосфором тонких плівок Cu6PS5I, а також їх структурні дослідження методами скануючої електронної мікроскопії та енерго-дисперсійної рентгенівської спектроскопії. Досліджено спектри пропускання тонких плівок, а також вивчено вплив іонної імплантації на спектри та параметри експоненціального краю поглинання. Вивчено дисперсію показників заломлення імплантованих плівок та проведено її опис за допомогою оптико- рефрактометричного співвідношення. Отримано та проаналізовано залежності ширини оптичної псевдощілини, урбахівської енергії та показників заломлення в імплантованих плівках від величини флуенса. Ключові слова: тонкі плівки, іонна імплантація, спектри пропускання, оптична псевдощілина, урбахівська енергія, показник заломлення. | uk |
dc.description.abstract | The ion implantation of Cu6PS5I thin films by sulphur and phosphorous is carried out as well as the structural studies by methods of scanning electron microscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy are performed. Transmission spectra of thin films and influence of ion implantation on spectra and parameters of exponential absorption edge are investigated. Refractive indeces dispersion of implanted thin films is studied as well as its description by optical-refractometric relation is carried out. Dependences of the optical pseudogap, Urbach energy and refractive indeces in implanted films on fluence values are investigated and analyzed. Key words: thin films, ion implantation, transmission spectra, optical pseudogap, Urbach energy, refractive index. | uk |
dc.language.iso | uk | uk |
dc.publisher | Видавництво УжНУ "Говерла" | uk |
dc.relation.ispartofseries | Фізика; | - |
dc.subject | тонкі плівки | uk |
dc.subject | іонна імплантація | uk |
dc.subject | спектри пропускання | uk |
dc.subject | оптична псевдощілина | uk |
dc.subject | урбахівська енергія | uk |
dc.subject | показник заломлення | uk |
dc.title | Вплив іонної імплантації на оптичні параметри тонких плівок Cu6PS5I. | uk |
dc.title.alternative | Influence of ion implantation on optical parameters of Cu6PS5I thin films. | uk |
dc.type | Text | uk |
dc.pubType | Стаття | uk |
Appears in Collections: | Науковий вісник УжНУ Серія: Фізика. Випуск 30 - 2011 |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
ВПЛИВ ІОННОЇ ІМПЛАНТАЦІЇ НА ОПТИЧНІ.pdf | 241.54 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.