Просмотр собрания по группе - Авторы Дубіковський, О. В
Результаты 1 по 1 из 1
| Дата выпуска | Название | Автор(ы) |
|---|---|---|
| 2019 | Області застосування методів мас-спектрометрії вторинних іонів (SIMS) | Сабов, Т. Н.; Мельник, В. П.; Дубіковський, О. В; Оберемок, О. С.; Косуля, О. В. |