Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/26503| Title: | Області застосування методів мас-спектрометрії вторинних іонів (SIMS) |
| Authors: | Сабов, Т. Н. Мельник, В. П. Дубіковський, О. В Оберемок, О. С. Косуля, О. В. |
| Issue Date: | 2019 |
| Publisher: | Вид-во УжНУ "Говерла" |
| Citation: | Сабов Т. Н. Області застосування методів мас-спектрометрії вторинних іонів (SIMS) / Т.М.Сабов, В.П.Мельник, О.В.Дубіковський, О.С.Оберемок, О.В.Косуля,. // Аналітична хімія - методи та інструменти / Analytical chemistry - methods and instrumentation: електронний збірник наукових праць за матеріалами Всеукраїнської наукової конференції (15-17 травня 2019 р.). – Ужгород: Вид-во УжНУ «Говерла», 2019. – 21 с. |
| Series/Report no.: | Аналітична хімія - методи та інструменти; |
| Type: | Text |
| Publication type: | Тези до статті |
| URI: | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/26503 |
| Appears in Collections: | АНАЛІТИЧНА ХІМІЯ - МЕТОДИ ТА ІНСТРУМЕНТИ |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| ОБЛАСТІ ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДІВ МАС-СПЕКТРОМЕТРІЇ.pdf | 525.6 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.