Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/26503| Назва: | Області застосування методів мас-спектрометрії вторинних іонів (SIMS) |
| Автори: | Сабов, Т. Н. Мельник, В. П. Дубіковський, О. В Оберемок, О. С. Косуля, О. В. |
| Дата публікації: | 2019 |
| Видавництво: | Вид-во УжНУ "Говерла" |
| Бібліографічний опис: | Сабов Т. Н. Області застосування методів мас-спектрометрії вторинних іонів (SIMS) / Т.М.Сабов, В.П.Мельник, О.В.Дубіковський, О.С.Оберемок, О.В.Косуля,. // Аналітична хімія - методи та інструменти / Analytical chemistry - methods and instrumentation: електронний збірник наукових праць за матеріалами Всеукраїнської наукової конференції (15-17 травня 2019 р.). – Ужгород: Вид-во УжНУ «Говерла», 2019. – 21 с. |
| Серія/номер: | Аналітична хімія - методи та інструменти; |
| Тип: | Text |
| Тип публікації: | Тези до статті |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/26503 |
| Розташовується у зібраннях: | АНАЛІТИЧНА ХІМІЯ - МЕТОДИ ТА ІНСТРУМЕНТИ |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| ОБЛАСТІ ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДІВ МАС-СПЕКТРОМЕТРІЇ.pdf | 525.6 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.