Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/26503
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Сабов, Т. Н. | - |
dc.contributor.author | Мельник, В. П. | - |
dc.contributor.author | Дубіковський, О. В | - |
dc.contributor.author | Оберемок, О. С. | - |
dc.contributor.author | Косуля, О. В. | - |
dc.date.accessioned | 2019-11-01T09:05:22Z | - |
dc.date.available | 2019-11-01T09:05:22Z | - |
dc.date.issued | 2019 | - |
dc.identifier.citation | Сабов Т. Н. Області застосування методів мас-спектрометрії вторинних іонів (SIMS) / Т.М.Сабов, В.П.Мельник, О.В.Дубіковський, О.С.Оберемок, О.В.Косуля,. // Аналітична хімія - методи та інструменти / Analytical chemistry - methods and instrumentation: електронний збірник наукових праць за матеріалами Всеукраїнської наукової конференції (15-17 травня 2019 р.). – Ужгород: Вид-во УжНУ «Говерла», 2019. – 21 с. | uk |
dc.identifier.uri | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/26503 | - |
dc.language.iso | uk | uk |
dc.publisher | Вид-во УжНУ "Говерла" | uk |
dc.relation.ispartofseries | Аналітична хімія - методи та інструменти; | - |
dc.title | Області застосування методів мас-спектрометрії вторинних іонів (SIMS) | uk |
dc.type | Text | uk |
dc.pubType | Тези до статті | uk |
Appears in Collections: | АНАЛІТИЧНА ХІМІЯ - МЕТОДИ ТА ІНСТРУМЕНТИ |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
ОБЛАСТІ ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДІВ МАС-СПЕКТРОМЕТРІЇ.pdf | 525.6 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.