Please use this identifier to cite or link to this item: https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/26503
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorСабов, Т. Н.-
dc.contributor.authorМельник, В. П.-
dc.contributor.authorДубіковський, О. В-
dc.contributor.authorОберемок, О. С.-
dc.contributor.authorКосуля, О. В.-
dc.date.accessioned2019-11-01T09:05:22Z-
dc.date.available2019-11-01T09:05:22Z-
dc.date.issued2019-
dc.identifier.citationСабов Т. Н. Області застосування методів мас-спектрометрії вторинних іонів (SIMS) / Т.М.Сабов, В.П.Мельник, О.В.Дубіковський, О.С.Оберемок, О.В.Косуля,. // Аналітична хімія - методи та інструменти / Analytical chemistry - methods and instrumentation: електронний збірник наукових праць за матеріалами Всеукраїнської наукової конференції (15-17 травня 2019 р.). – Ужгород: Вид-во УжНУ «Говерла», 2019. – 21 с.uk
dc.identifier.urihttps://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/26503-
dc.language.isoukuk
dc.publisherВид-во УжНУ "Говерла"uk
dc.relation.ispartofseriesАналітична хімія - методи та інструменти;-
dc.titleОбласті застосування методів мас-спектрометрії вторинних іонів (SIMS)uk
dc.typeTextuk
dc.pubTypeТези до статтіuk
Appears in Collections:АНАЛІТИЧНА ХІМІЯ - МЕТОДИ ТА ІНСТРУМЕНТИ

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
ОБЛАСТІ ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДІВ МАС-СПЕКТРОМЕТРІЇ.pdf525.6 kBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.