Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/26503
Название: Області застосування методів мас-спектрометрії вторинних іонів (SIMS)
Авторы: Сабов, Т. Н.
Мельник, В. П.
Дубіковський, О. В
Оберемок, О. С.
Косуля, О. В.
Дата публикации: 2019
Издательство: Вид-во УжНУ "Говерла"
Библиографическое описание: Сабов Т. Н. Області застосування методів мас-спектрометрії вторинних іонів (SIMS) / Т.М.Сабов, В.П.Мельник, О.В.Дубіковський, О.С.Оберемок, О.В.Косуля,. // Аналітична хімія - методи та інструменти / Analytical chemistry - methods and instrumentation: електронний збірник наукових праць за матеріалами Всеукраїнської наукової конференції (15-17 травня 2019 р.). – Ужгород: Вид-во УжНУ «Говерла», 2019. – 21 с.
Серия/номер: Аналітична хімія - методи та інструменти;
Тип: Text
Тип публикации: Тези до статті
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/26503
Располагается в коллекциях:АНАЛІТИЧНА ХІМІЯ - МЕТОДИ ТА ІНСТРУМЕНТИ

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
ОБЛАСТІ ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДІВ МАС-СПЕКТРОМЕТРІЇ.pdf525.6 kBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.