Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/26503
Название: | Області застосування методів мас-спектрометрії вторинних іонів (SIMS) |
Авторы: | Сабов, Т. Н. Мельник, В. П. Дубіковський, О. В Оберемок, О. С. Косуля, О. В. |
Дата публикации: | 2019 |
Издательство: | Вид-во УжНУ "Говерла" |
Библиографическое описание: | Сабов Т. Н. Області застосування методів мас-спектрометрії вторинних іонів (SIMS) / Т.М.Сабов, В.П.Мельник, О.В.Дубіковський, О.С.Оберемок, О.В.Косуля,. // Аналітична хімія - методи та інструменти / Analytical chemistry - methods and instrumentation: електронний збірник наукових праць за матеріалами Всеукраїнської наукової конференції (15-17 травня 2019 р.). – Ужгород: Вид-во УжНУ «Говерла», 2019. – 21 с. |
Серия/номер: | Аналітична хімія - методи та інструменти; |
Тип: | Text |
Тип публикации: | Тези до статті |
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/26503 |
Располагается в коллекциях: | АНАЛІТИЧНА ХІМІЯ - МЕТОДИ ТА ІНСТРУМЕНТИ |
Файлы этого ресурса:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
ОБЛАСТІ ЗАСТОСУВАННЯ МЕТОДІВ МАС-СПЕКТРОМЕТРІЇ.pdf | 525.6 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.