Перегляд зібрання за групою - Автори Оберемок, О. С.
Результати 1 до 1 із 1
| Дата випуску | Назва | Автор(и) |
|---|---|---|
| 2019 | Області застосування методів мас-спектрометрії вторинних іонів (SIMS) | Сабов, Т. Н.; Мельник, В. П.; Дубіковський, О. В; Оберемок, О. С.; Косуля, О. В. |