Просмотр собрания по группе - Авторы Shylenko, O.
Результаты 1 по 2 из 2
Дата выпуска | Название | Автор(ы) |
2017 | Comparison of sensitivity of Ge(9)As(9)Se(82) and Ge(16)As(24)Se(60) thin films to irradiation with electron beam | Shylenko, O.; Bilanych, V.; Feher, A.; Rizak, V.; Komanicky, V. |
2020 | Interaction of chalcogenide As4Se96 films with electron beam when used them as electronic resists | Bilanych, B.V.; Shylenko, O.; Latyshev, V.M.; Feher, A.; Bilanych, V.S.; Rizak, V.M.; Komanicky, V. |