Експериментальна установка для дослідження термостимульованих струмів у напівпровідниках і діелектриках

Abstract

Розроблено та виготовлено автоматизовану установку для дослідження термо-стимульованих струмів (ТСС) в напівпровідникових і діелектричних матеріалах. На відміну від уже існуючих установок для дослідження ТСС, дана установка дає можливість виміряти ТСС у вакуумі в широкому діапазоні швидкостей лінійного нагрівання (0.01 - 10 °С/с) та температур (20 - 400 °С). Сигнал, який реєструється установкою, знаходиться в межах 10-12 - 10-7 А. Для забезпечення лінійного нагріву створено електронну систему керування. Для збору, обробки і передачі оцифрованих даних у персональний комп’ютер, ви-користано мікроконтролер. Проведено контрольні виміри термостимульованих струмів провідності (ТССП) на монокристалі кварцу.

An automated setup for studying thermostimulated currents (TSC) in semiconductor and dielectric materials is made. Unlike the existing equipment, it enables TSC to be measured in vacuum in a broad range of the linear heating rates (0.01-10 °C/s) and temperatures (20-400 °C). The signal, detected by the setup, varies within 10-12 A to 10-7 A. An electronic control system was designed to control the heating process. A microcontroller was used for digital data acquisition, processing and transfer to a personal computer. Test measurements of thermostimulated conductivity currents (TSCC) were carried for a quartz single crystal.