Динамічний інтерферометр на основі фотоіндукованого розсіяння світла у кристалі Sn2P2S6

Abstract

На основі високих фоторефрактивних параметрів легованих монокристалів Sn2P2S6 реалізовано однопроменевий динамічний інтерферометр, котрий дозволяє реєстру-вати параметри фазової модуляції лазерного променя, що відбивається від вібруючої поверхні. Схема інтерферометра основана на ефекті динамічного роз-сіяння когерентного світла у фоторефрактивному кристалі. Одержано амплітудні та частотні характеристики інтерферометра.

На основе высоких фоторефрактивних параметров легированных монокристаллов Sn2P2S6 реализован однолучевой динамический интерферометр, позволяющий регистрировать параметры фазовой модуляции лазерного луча, отраженного от вибрирующей поверхности. Схема интерферометра основана на эффекте дина-мического рассеяния когерентного света в фоторефрактивном кристалле. Получены амплитудные и частотные характеристики интерферометра.

Introduction: Single-beam dynamic interferometer based on the Sb-doped Sn2P2S6 allows registration of the phase modulation of the laser beam reflected by a vibrating surface basing on the effect of the dynamic scattering of coherent light in a PR crystal. Purpose: The article is devoted to consideration of usage Sn2P2S6 crystal as an active element of single-beam interferometer. Results: The shape and amplitude of the output signal depends on the frequency and the amplitude of phase modulation. Registered periodic changes of fanning intensity in the spatial region of its maximum are associated not only with its integral intensity variation but also with dynamic of spatial redistribution of scattering that probably defines synchronous to phase modulation character of the intensity fluctuations of fanning. Conclusion: This scheme allows recording of phase-fluctuations of the laser beam in a wide frequency range that determines its potential applicability.