Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/28719Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Попович, Наталія Іванівна | - |
| dc.date.accessioned | 2020-03-11T11:44:21Z | - |
| dc.date.available | 2020-03-11T11:44:21Z | - |
| dc.date.issued | 2015 | - |
| dc.identifier.citation | Попович, Н. І. Застосування методів фотоелектронної спектроскопії для дослідження структури приповерхневих шарів некристалічних халькогенідних матеріалів [Текст] / Н. І. Попович // Науковий вісник Ужгородського університету : серія: Фізика / відп. ред. В. Різак; відп. за вип. М. Мар’ян. – Ужгород : Видавництво УжНУ "Говерла", 2015. – Вип. 38. – С. 8–17 | uk |
| dc.identifier.uri | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/28719 | - |
| dc.description.abstract | Проаналізовано можливість застосування методів рентгенівської фотоелектронної спектроскопії та фотоелектронної спектроскопії із використанням синхротронного випромінювання для дослідження структури некристалічних напівпровідникових матеріалів, зокрема халькогенідних. Виявлено переваги і недоліки цих методів у випадку дослідження тонких шарів або поверхні халькогенідних стекол. | uk |
| dc.description.abstract | The possibility of using the methods of X-ray photoelectron spectroscopy and photoelectron spectroscopy using synchrotron radiation was analyzed to study the structure of non-crystalline semiconductor materials, including chalcogenides. Advantages and disadvantages of these methods in case of studies of thin layers or surface of chalcogenide glasses were discovered. | uk |
| dc.language.iso | uk | uk |
| dc.publisher | ДВНЗ "УжНУ" | uk |
| dc.relation.ispartofseries | Фізика; | - |
| dc.subject | рентгенівська фотоелектронна спектроскопія (XPS) | uk |
| dc.subject | фотоелектронна спектроскопія з використанням синхротронного випромінювання (SRPES) | uk |
| dc.subject | некристалічні халькогеніди | uk |
| dc.subject | структурні одиниці | uk |
| dc.title | Застосування методів фотоелектронної спектроскопії для дослідження структури приповерхневих шарів некристалічних халькогенідних матеріалів | uk |
| dc.title.alternative | APPLICATION OF PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY METHODS FOR INVESTIGATION OF SUBSURFACE LAYERS OF AMORPHOUS CHALCOGENIDE MATERIALS | uk |
| dc.type | Text | uk |
| dc.pubType | Стаття | uk |
| Appears in Collections: | Науковий вісник УжНУ Серія: Фізика. Випуск 38 - 2015 | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Застосування методів фотоелектронної спектроскопії для дослідження.pdf | 941.38 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.