Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/28719| Назва: | Застосування методів фотоелектронної спектроскопії для дослідження структури приповерхневих шарів некристалічних халькогенідних матеріалів |
| Інші назви: | APPLICATION OF PHOTOELECTRON SPECTROSCOPY METHODS FOR INVESTIGATION OF SUBSURFACE LAYERS OF AMORPHOUS CHALCOGENIDE MATERIALS |
| Автори: | Попович, Наталія Іванівна |
| Ключові слова: | рентгенівська фотоелектронна спектроскопія (XPS), фотоелектронна спектроскопія з використанням синхротронного випромінювання (SRPES), некристалічні халькогеніди, структурні одиниці |
| Дата публікації: | 2015 |
| Видавництво: | ДВНЗ "УжНУ" |
| Бібліографічний опис: | Попович, Н. І. Застосування методів фотоелектронної спектроскопії для дослідження структури приповерхневих шарів некристалічних халькогенідних матеріалів [Текст] / Н. І. Попович // Науковий вісник Ужгородського університету : серія: Фізика / відп. ред. В. Різак; відп. за вип. М. Мар’ян. – Ужгород : Видавництво УжНУ "Говерла", 2015. – Вип. 38. – С. 8–17 |
| Серія/номер: | Фізика; |
| Короткий огляд (реферат): | Проаналізовано можливість застосування методів рентгенівської фотоелектронної спектроскопії та фотоелектронної спектроскопії із використанням синхротронного випромінювання для дослідження структури некристалічних напівпровідникових матеріалів, зокрема халькогенідних. Виявлено переваги і недоліки цих методів у випадку дослідження тонких шарів або поверхні халькогенідних стекол. The possibility of using the methods of X-ray photoelectron spectroscopy and photoelectron spectroscopy using synchrotron radiation was analyzed to study the structure of non-crystalline semiconductor materials, including chalcogenides. Advantages and disadvantages of these methods in case of studies of thin layers or surface of chalcogenide glasses were discovered. |
| Тип: | Text |
| Тип публікації: | Стаття |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/28719 |
| Розташовується у зібраннях: | Науковий вісник УжНУ Серія: Фізика. Випуск 38 - 2015 |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Застосування методів фотоелектронної спектроскопії для дослідження.pdf | 941.38 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.