Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/29006
Назва: Temperature-Dependent Dielectric Functions and Interband Critical Points of Sulfur-Rich TlIn (S1-xSex)2 Layered Solid Solution Crystals
Автори: Gomonnai, О.O.
Gordan, O.
Guranich, P.P.
Slivka, A.G.
Gomonnai, A.V.
Zahn, D.R.T.
Дата публікації: 2017
Видавництво: Elsevier
Серія/номер: Applied Surface Science.– 2017.– V. 424, P. 383–388.;
Тип: Text
Тип публікації: Стаття
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/29006
Розташовується у зібраннях:Наукові публікації кафедри оптики

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
2017-Appl-Surf-sci-424.pdf1.71 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.