Please use this identifier to cite or link to this item: https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/5138
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorKondrat, O.-
dc.contributor.authorHolomb, R.M.-
dc.contributor.authorPopovych, N.I.-
dc.contributor.authorTsud, N.-
dc.contributor.authorMitsa, V.M.-
dc.contributor.authorМіца, Володимир Михайловичuk
dc.date.accessioned2015-12-09T22:46:49Z-
dc.date.available2015-12-09T22:46:49Z-
dc.date.issued2015-
dc.identifier.citationO.B. Kondrat, R.M. Holomb, N.I. Popovych, N. Tsud, V.M. Mitsa. XPS investigationof photostructural changes of As20Se80 nanolayers // International Meeting on Clusters and Nanostructured Materials (CNM-4), 12-16 October 2015, Uzhgorod-Vodohraj, Ukraineuk
dc.identifier.urihttps://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/5138-
dc.description.abstractXPS investigation of photostructural changes of As20Se80 nanolayersuk
dc.language.isoenuk
dc.subjectAs20Se80uk
dc.subjectXPS investigationuk
dc.titleXPS investigationof photostructural changes of As20Se80 nanolayersuk
dc.typeTextuk
dc.pubTypeТези до статтіuk
Appears in Collections:Наукові публікації кафедри інформатики та фізико-математичних дисциплін
Наукові публікації кафедри інформаційних управляючих систем та технологій

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
2015_CNM-4_4.pdf3.09 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.