Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/5138| Назва: | XPS investigationof photostructural changes of As20Se80 nanolayers |
| Автори: | Kondrat, O. Holomb, R.M. Popovych, N.I. Tsud, N. Mitsa, V.M. Міца, Володимир Михайлович |
| Ключові слова: | As20Se80, XPS investigation |
| Дата публікації: | 2015 |
| Бібліографічний опис: | O.B. Kondrat, R.M. Holomb, N.I. Popovych, N. Tsud, V.M. Mitsa. XPS investigationof photostructural changes of As20Se80 nanolayers // International Meeting on Clusters and Nanostructured Materials (CNM-4), 12-16 October 2015, Uzhgorod-Vodohraj, Ukraine |
| Короткий огляд (реферат): | XPS investigation of photostructural changes of As20Se80 nanolayers |
| Тип: | Text |
| Тип публікації: | Тези до статті |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/5138 |
| Розташовується у зібраннях: | Наукові публікації кафедри інформатики та фізико-математичних дисциплін Наукові публікації кафедри інформаційних управляючих систем та технологій |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 2015_CNM-4_4.pdf | 3.09 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.