Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/13699| Назва: | Complex spectroscopical study of top surface nanolayers of the AsxSe100-x thin films for their application in all optical signal processing |
| Автори: | Kondrat, O.B. Holomb, R.M. Tsud, N. Mitsa, V.M. Міца, Володимир Михайлович |
| Ключові слова: | surface nanolayers of the AsxSe100-x thin films |
| Дата публікації: | 2017 |
| Бібліографічний опис: | O. Kondrat, R. Holomb, N. Tsud, V. Mitsa. Complex spectroscopical study of top surface nanolayers of the AsxSe100-x thin films for their application in all optical signal processing // Materials of XVI International conference “Physics and technology of thin films and nanosystems”. – Iv.-Frankivsk, Ukraine, May 15-20, 2017. – pp. 286. |
| Короткий огляд (реферат): | Complex spectroscopical study of top surface nanolayers of the AsxSe100-x thin films for their application in all optical signal processing |
| Тип: | Text |
| Тип публікації: | Тези до статті |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/13699 |
| Розташовується у зібраннях: | Наукові публікації кафедри інформаційних управляючих систем та технологій |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| ICPTTFN-16_2.pdf | 8.33 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.