Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/14455Full metadata record
| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Козак, М.І. | - |
| dc.date.accessioned | 2017-08-04T09:09:44Z | - |
| dc.date.available | 2017-08-04T09:09:44Z | - |
| dc.date.issued | 2009 | - |
| dc.identifier.citation | Козак, М. І. Еліпсорефрактометричний підхід дослідження фотоіндукованих ефектів у тонкошарових конденсатах халькогенідних склоподібних напівпровідників [Текст] / М. І. Козак // Науковий вісник Ужгородського університету : Серія: Фізика / ред. кол.: В. Різак, В. Біланич, Ю. Височанський, О. Грабар. – Ужгород: Видавництво УжНУ «Говерла», 2009. – Вип. 26. – С. 181–192. – Бібліогр.: с. 191–192 (44 назви). | uk |
| dc.identifier.uri | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/14455 | - |
| dc.description.abstract | На основі еліпсометричного та рефрактометричного методів розроблено новий еліпсорефрактометричний підхід для аналізу світлового впливу на оптичні та термодинамічні параметри тонких плівок склоподібних халькогенідів. В рамках даного підходу пояснено ряд фотоіндукованих ефектів в плівках As₂S₃. | uk |
| dc.description.abstract | On the basis ellipsometric and refractometric methods it is developed new the Ellipsorefraktometric approach for analysis of light influence on optical and thermodynamic parametres of chalcogenide glasses thin films. Within the limits of the given approach it is explained a number of the photoinduced effects in films As₂S₃. | uk |
| dc.language.iso | uk | uk |
| dc.publisher | Видавництво УжНУ "Говерла" | uk |
| dc.relation.ispartofseries | Фізика; | - |
| dc.subject | аналіз світлового впливу | uk |
| dc.subject | тонкі плівки склоподібних халькогенідів | uk |
| dc.subject | оптичні параметри | uk |
| dc.subject | термодинамічні параметри | uk |
| dc.subject | еліпсорефрактометричний підхід | uk |
| dc.subject | еліпсометричний метод | uk |
| dc.subject | рефрактометричний метод | uk |
| dc.title | Еліпсорефрактометричний підхід дослідження фотоіндукованих ефектів у тонкошарових конденсатах халькогенідних склоподібних напівпровідників | uk |
| dc.title.alternative | The Ellipsorefraktometric approach researches of photoinduced effects in thin layers of chalcogenide glasses | uk |
| dc.type | Text | uk |
| dc.pubType | Стаття | uk |
| Appears in Collections: | Науковий вісник УжНУ Серія: Фізика. Випуск 26 - 2009 | |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 18.Еліпсорефрактометричний підхід дослідження фотоіндукованих ефектів у.pdf | 1.14 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.