Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/14455| Назва: | Еліпсорефрактометричний підхід дослідження фотоіндукованих ефектів у тонкошарових конденсатах халькогенідних склоподібних напівпровідників |
| Інші назви: | The Ellipsorefraktometric approach researches of photoinduced effects in thin layers of chalcogenide glasses |
| Автори: | Козак, М.І. |
| Ключові слова: | аналіз світлового впливу, тонкі плівки склоподібних халькогенідів, оптичні параметри, термодинамічні параметри, еліпсорефрактометричний підхід, еліпсометричний метод, рефрактометричний метод |
| Дата публікації: | 2009 |
| Видавництво: | Видавництво УжНУ "Говерла" |
| Бібліографічний опис: | Козак, М. І. Еліпсорефрактометричний підхід дослідження фотоіндукованих ефектів у тонкошарових конденсатах халькогенідних склоподібних напівпровідників [Текст] / М. І. Козак // Науковий вісник Ужгородського університету : Серія: Фізика / ред. кол.: В. Різак, В. Біланич, Ю. Височанський, О. Грабар. – Ужгород: Видавництво УжНУ «Говерла», 2009. – Вип. 26. – С. 181–192. – Бібліогр.: с. 191–192 (44 назви). |
| Серія/номер: | Фізика; |
| Короткий огляд (реферат): | На основі еліпсометричного та рефрактометричного методів розроблено новий
еліпсорефрактометричний підхід для аналізу світлового впливу на оптичні та термодинамічні
параметри тонких плівок склоподібних халькогенідів. В рамках даного підходу пояснено ряд
фотоіндукованих ефектів в плівках As₂S₃. On the basis ellipsometric and refractometric methods it is developed new the Ellipsorefraktometric approach for analysis of light influence on optical and thermodynamic parametres of chalcogenide glasses thin films. Within the limits of the given approach it is explained a number of the photoinduced effects in films As₂S₃. |
| Тип: | Text |
| Тип публікації: | Стаття |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/14455 |
| Розташовується у зібраннях: | Науковий вісник УжНУ Серія: Фізика. Випуск 26 - 2009 |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 18.Еліпсорефрактометричний підхід дослідження фотоіндукованих ефектів у.pdf | 1.14 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.