Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/14455
Название: Еліпсорефрактометричний підхід дослідження фотоіндукованих ефектів у тонкошарових конденсатах халькогенідних склоподібних напівпровідників
Другие названия: The Ellipsorefraktometric approach researches of photoinduced effects in thin layers of chalcogenide glasses
Авторы: Козак, М.І.
Ключевые слова: аналіз світлового впливу, тонкі плівки склоподібних халькогенідів, оптичні параметри, термодинамічні параметри, еліпсорефрактометричний підхід, еліпсометричний метод, рефрактометричний метод
Дата публикации: 2009
Издательство: Видавництво УжНУ "Говерла"
Библиографическое описание: Козак, М. І. Еліпсорефрактометричний підхід дослідження фотоіндукованих ефектів у тонкошарових конденсатах халькогенідних склоподібних напівпровідників [Текст] / М. І. Козак // Науковий вісник Ужгородського університету : Серія: Фізика / ред. кол.: В. Різак, В. Біланич, Ю. Височанський, О. Грабар. – Ужгород: Видавництво УжНУ «Говерла», 2009. – Вип. 26. – С. 181–192. – Бібліогр.: с. 191–192 (44 назви).
Серия/номер: Фізика;
Краткий осмотр (реферат): На основі еліпсометричного та рефрактометричного методів розроблено новий еліпсорефрактометричний підхід для аналізу світлового впливу на оптичні та термодинамічні параметри тонких плівок склоподібних халькогенідів. В рамках даного підходу пояснено ряд фотоіндукованих ефектів в плівках As₂S₃.
On the basis ellipsometric and refractometric methods it is developed new the Ellipsorefraktometric approach for analysis of light influence on optical and thermodynamic parametres of chalcogenide glasses thin films. Within the limits of the given approach it is explained a number of the photoinduced effects in films As₂S₃.
Тип: Text
Тип публикации: Стаття
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/14455
Располагается в коллекциях:2009 / Науковий вісник УжНУ. Серія: Фізика. Випуск 26



Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.