Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/14604| Назва: | Дослідження плівок оксиду цинку методами електронної і атомносилової мікроскопії та спектральної еліпсометрії |
| Інші назви: | Studies of ZnO films by electron and atomic force microscopy and spectral ellipsometry |
| Автори: | Поперенко, Л.В. Раков, М.В. Ткач, В.М. Юргелевич, І.В. |
| Ключові слова: | плівки оксиду цинку, метод електронної мікроскопії, метод атомносилової мікроскопії, метод спектральної еліпсометрії |
| Дата публікації: | 2009 |
| Видавництво: | Видавництво УжНУ "Говерла" |
| Бібліографічний опис: | Дослідження плівок оксиду цинку методами електронної і атомносилової мікроскопії та спектральної еліпсометрії [Текст] / Л. В. Поперенко, М. В. Раков, В. М. Ткач, І. В. Юргелевич // Науковий вісник Ужгородського університету : Серія: Фізика / ред. кол. : В. Різак, В. Біланич, Ю. Височанський, О. Грабар. – Ужгород: Видавництво УжНУ «Говерла», 2009. – Вип. 24. – С. 166–170. – Бібліогр.: с. 169–170 (3 назви). – Рез.– англ. |
| Короткий огляд (реферат): | В цій статті описано мотивацію для дослідження оптичних властивостей плівок ZnO. Методом спектральної еліпсометрії визначено спектральні залежності еліпсометричних параметрів плівок. Методами растрово-електронної (РЕМ) та атомносилової (АСМ) мікроскопії отримано дані про структуру і шорсткість поверхонь плівок. Зроблено деякі висновки про властивості досліджуваних плівок. |
| Тип: | Text |
| Тип публікації: | Стаття |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/14604 |
| Розташовується у зібраннях: | Науковий вісник УжНУ Серія: Фізика. Випуск 24 - 2009 |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| ДОСЛІДЖЕННЯ ПЛІВОК ОКСИДУ ЦИНКУ.pdf | 668.56 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.