Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/48806
Full metadata record
DC Field | Value | Language |
---|---|---|
dc.contributor.author | Жихарєв, Володимир Миколайович | - |
dc.contributor.author | Павлишин, Роман Євстахійович | - |
dc.date.accessioned | 2023-03-11T14:40:43Z | - |
dc.date.available | 2023-03-11T14:40:43Z | - |
dc.date.issued | 2020 | - |
dc.identifier.citation | Жихарєв В. М. Основи метрології та стандартизації. Цикл лекційних і практичних занять : навчально-методичний посібник / В. М. Жихарєв, Р. Є. Павлишин. – Ужгород: ТОВ «РІК-У», 2020. – 280 с. | uk |
dc.identifier.isbn | 978-617-7868-31-5 | - |
dc.identifier.uri | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/48806 | - |
dc.description.abstract | Навчально-методичний посібник складається з трьох частин. Перша частина, як лекційна, містить 10 тем і присвячена основам метрології. В ній викладено відомості про становлення та розвиток одиниць фізичних величин і метрич-ної системи одиниць, визначення основних одиниць СІ та еталонів цих одиниць у їх історичному уточненні. Розглянуті питання метрологічної класифікації видів і методів вимірювання, засобів вимірювання, їх характеристики та визначення похибок вимірювань, також, елементи теорії ймовірності та основні поняття теорії випадкових похибок, функції розподілів похибок вимірю-вання фізичних величин. У другій частини, яка є також лекційною, викладено відомості про теоретичні і організаційні основи стандартизації. Третя частина присвячення практичним заняттям на базі лекційного матеріалу і стосу-ється обробки даних вимірювань (прямих і посередніх, рівноточних і нерів-ноточних, багатократних і одноразових) з метою знаходження результату вимірювання та його похибки. Вона розбита на 9 тем, кожна з яких включає комплекс завдань і задач, розв’язок яких детально пояснюється, та завдання для контролю і самостійного розв’язку. | uk |
dc.language.iso | uk | uk |
dc.publisher | ТОВ "РІК-У" | uk |
dc.relation.ispartofseries | УДК 006.91(075.8);Ж75 | - |
dc.subject | метрологія | uk |
dc.subject | еталони у фізиці | uk |
dc.subject | обробка експериментальних даних | uk |
dc.title | Основи метрології та стандартизації | uk |
dc.type | Text | uk |
dc.pubType | Навчально-методичний посібник | uk |
Appears in Collections: | Навчально-методичні матеріали кафедри фізики напівпровідників |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Жихарєв В.М. Павлишин Р.Є. Основи метрології та стандартизації (2020).pdf | Навчально-методичний посібник з метрології та обробки експериментальних даних для студентів вузів. | 6.26 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.