Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/48806
Название: Основи метрології та стандартизації
Авторы: Жихарєв, Володимир Миколайович
Павлишин, Роман Євстахійович
Ключевые слова: метрологія, еталони у фізиці, обробка експериментальних даних
Дата публикации: 2020
Издательство: ТОВ "РІК-У"
Библиографическое описание: Жихарєв В. М. Основи метрології та стандартизації. Цикл лекційних і практичних занять : навчально-методичний посібник / В. М. Жихарєв, Р. Є. Павлишин. – Ужгород: ТОВ «РІК-У», 2020. – 280 с.
Серия/номер: УДК 006.91(075.8);Ж75
Краткий осмотр (реферат): Навчально-методичний посібник складається з трьох частин. Перша частина, як лекційна, містить 10 тем і присвячена основам метрології. В ній викладено відомості про становлення та розвиток одиниць фізичних величин і метрич-ної системи одиниць, визначення основних одиниць СІ та еталонів цих одиниць у їх історичному уточненні. Розглянуті питання метрологічної класифікації видів і методів вимірювання, засобів вимірювання, їх характеристики та визначення похибок вимірювань, також, елементи теорії ймовірності та основні поняття теорії випадкових похибок, функції розподілів похибок вимірю-вання фізичних величин. У другій частини, яка є також лекційною, викладено відомості про теоретичні і організаційні основи стандартизації. Третя частина присвячення практичним заняттям на базі лекційного матеріалу і стосу-ється обробки даних вимірювань (прямих і посередніх, рівноточних і нерів-ноточних, багатократних і одноразових) з метою знаходження результату вимірювання та його похибки. Вона розбита на 9 тем, кожна з яких включає комплекс завдань і задач, розв’язок яких детально пояснюється, та завдання для контролю і самостійного розв’язку.
Тип: Text
Тип публикации: Навчально-методичний посібник
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/48806
ISBN: 978-617-7868-31-5
Располагается в коллекциях:Навчально-методичні матеріали кафедри фізики напівпровідників

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
Жихарєв В.М. Павлишин Р.Є. Основи метрології та стандартизації (2020).pdfНавчально-методичний посібник з метрології та обробки експериментальних даних для студентів вузів.6.26 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.