Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/5142| Назва: | Compositional investigations of the As-Se nanolayers using X-ray photoelectron spectroscopy |
| Автори: | Kondrat, O. Holomb, R.M. Popovych, N. Tsud, N. Mitsa, V.M. Міца, Володимир Михайлович |
| Ключові слова: | As-Se, X-ray photoelectron spectroscopy |
| Дата публікації: | 2015 |
| Бібліографічний опис: | O. Kondrat, R. Holomb, N. Popovich, N. Tsud, V. Mitsa. Compositional investigations of the As-Se nanolayers using X-ray photoelectron spectroscopy // Materials of XV International conference “Physics and technology of thin films and nanosystems”. – Iv.-Frankivsk, Ukraine, May 11-16, 2015. – p. 175. |
| Короткий огляд (реферат): | Compositional investigations of the As-Se nanolayers using X-ray photoelectron spectroscopy |
| Тип: | Text |
| Тип публікації: | Тези до статті |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/5142 |
| Розташовується у зібраннях: | Наукові публікації кафедри інформатики та фізико-математичних дисциплін Наукові публікації кафедри інформаційних управляючих систем та технологій |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| ICPTTFN-2015_2.pdf | 5.87 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.