Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/69520| Название: | Electron-Beam Recording of Surface Structures on As-S-Se Chalcogenide Thin Films |
| Авторы: | Revutska, L.O. Shylenko, O.I. Stronski, A.V. Komanicky, V. Bilanych, V.S. |
| Ключевые слова: | chalcogenide thin films, chalcogenide thin films, electron beam irradiation, surface nanostructures. |
| Дата публикации: | 2020 |
| Издательство: | Physics and chemistry of solid state |
| Библиографическое описание: | Physics and chemistry of solid state, 2020, V. 1, № 1, С. 146-150 |
| Краткий осмотр (реферат): | The effect of electron beam irradiation on the amorphous chalcogenide film As38S36Se26 was studied. The formation of cones with a Gaussian profile on the surfaces of the films was found after local electron irradiation. Exposition dependent evolution of height surface nanostructures has been detected. The dependence of the height of surface nanostructures on the dose of irradiation is analyzed. Charge accumulation model into interaction region between the film and the electron beam was used to explain the electron-induced phenomena of the surface structure of amorphous As38S36Se26 films. Charges relaxation times, and electron beam penetration depth into film, and the initial and inverse doses are determined. |
| Тип: | Text |
| Тип публикации: | Стаття |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/69520 |
| Располагается в коллекциях: | Наукові публікації кафедри прикладної фізики і квантової електроніки |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 2020_PHYSICS AND CHEMISTRY....pdf | 646.78 kB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.