Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/69520| Назва: | Electron-Beam Recording of Surface Structures on As-S-Se Chalcogenide Thin Films |
| Автори: | Revutska, L.O. Shylenko, O.I. Stronski, A.V. Komanicky, V. Bilanych, V.S. |
| Ключові слова: | chalcogenide thin films, chalcogenide thin films, electron beam irradiation, surface nanostructures. |
| Дата публікації: | 2020 |
| Видавництво: | Physics and chemistry of solid state |
| Бібліографічний опис: | Physics and chemistry of solid state, 2020, V. 1, № 1, С. 146-150 |
| Короткий огляд (реферат): | The effect of electron beam irradiation on the amorphous chalcogenide film As38S36Se26 was studied. The formation of cones with a Gaussian profile on the surfaces of the films was found after local electron irradiation. Exposition dependent evolution of height surface nanostructures has been detected. The dependence of the height of surface nanostructures on the dose of irradiation is analyzed. Charge accumulation model into interaction region between the film and the electron beam was used to explain the electron-induced phenomena of the surface structure of amorphous As38S36Se26 films. Charges relaxation times, and electron beam penetration depth into film, and the initial and inverse doses are determined. |
| Тип: | Text |
| Тип публікації: | Стаття |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/69520 |
| Розташовується у зібраннях: | Наукові публікації кафедри прикладної фізики і квантової електроніки |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 2020_PHYSICS AND CHEMISTRY....pdf | 646.78 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.