Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/4045| Назва: | OPTICAL COATINGS BASED ON NON-CRYSTALLINE FILMS WITH TRANSITION SUBSTRATE-FILM LAYERS: SIMS AND AUGER PROFILES |
| Автори: | Міца, Олександр Володимирович Фекешгазі, Іштван Вінсеєвич Угрін, Олександр Михайлович |
| Ключові слова: | SIMS profile, Chalcogenide films, Inhomogeneous film |
| Дата публікації: | сер-2005 |
| Короткий огляд (реферат): | The results of studies by the SIMS and Auger spectroscopy methods of element distribution in a-As2S3 and a-GeS2 films prepared by vacuum evaporation on Si substrates are presented. In a-GeS2 films the extended transition region with dimensions of ~ 30 nm has been observed. The intensity of interference maximum of such slightly inhomogeneous thin films on glassy substrate is higher than the maximum of transmission level of the free glassy substrate. |
| Тип: | Text |
| Тип публікації: | Стаття |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/4045 |
| Розташовується у зібраннях: | Наукові публікації кафедри інформаційних управляючих систем та технологій |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Mitsa2.pdf | 509.26 kB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.