Please use this identifier to cite or link to this item:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/48809| Title: | Визначення оптичних констант напівпровідникових матеріалів за допомогою еліпсометра |
| Authors: | Жихарєв, Володимир Миколайович Козак, Мирослав Іванович |
| Keywords: | еліпсометрія, метод визначення показника заломлення |
| Issue Date: | 2017 |
| Publisher: | ФОП "Сабов А.М." |
| Citation: | Жихарєв В. М. Визначення оптичних констант напівпровідникових матеріалів за допомогою еліпсометра : методична розробка / В. М. Жихарєв, М. І. Козак. – Ужгород, 2017. – 70 с. |
| Abstract: | Методична розробка написана для студентів фізичного факультету ДВНЗ “УжНУ”, які вивчають розділ загальної фізики “Оптика” і має на меті розширити їх теоретичні і практичні знання з методів визначення оптичних параметрів різноманітних матеріалів та їх застосуванню. Також вона може бути використана як методичний посібник до лабораторної роботи у спецкурсі “Методи визначення параметрів напівпровідникових матеріалів”. |
| Description: | Надано рекомендації щодо підготовки, виконання та оформлення лабораторної роботи “Визначення комплексного показника заломлення та товщини плівок за допомогою еліпсометра ЛЕФ-3М-1”, де описано принцип роботи еліпсометра, методика вимірювання поляризаційних кутів та розрахунок відповідних оптичних параметрів. |
| Type: | Text |
| Publication type: | Методичні рекомендації |
| URI: | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/48809 |
| Appears in Collections: | Навчально-методичні матеріали кафедри фізики напівпровідників |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| Жихарєв В.М. Козак М.І. Визначення оптичних констант еліпсометром.pdf | Навчально-методичний посібник з еліпсометрії | 1 MB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.