Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/48809| Название: | Визначення оптичних констант напівпровідникових матеріалів за допомогою еліпсометра |
| Авторы: | Жихарєв, Володимир Миколайович Козак, Мирослав Іванович |
| Ключевые слова: | еліпсометрія, метод визначення показника заломлення |
| Дата публикации: | 2017 |
| Издательство: | ФОП "Сабов А.М." |
| Библиографическое описание: | Жихарєв В. М. Визначення оптичних констант напівпровідникових матеріалів за допомогою еліпсометра : методична розробка / В. М. Жихарєв, М. І. Козак. – Ужгород, 2017. – 70 с. |
| Краткий осмотр (реферат): | Методична розробка написана для студентів фізичного факультету ДВНЗ “УжНУ”, які вивчають розділ загальної фізики “Оптика” і має на меті розширити їх теоретичні і практичні знання з методів визначення оптичних параметрів різноманітних матеріалів та їх застосуванню. Також вона може бути використана як методичний посібник до лабораторної роботи у спецкурсі “Методи визначення параметрів напівпровідникових матеріалів”. |
| Описание: | Надано рекомендації щодо підготовки, виконання та оформлення лабораторної роботи “Визначення комплексного показника заломлення та товщини плівок за допомогою еліпсометра ЛЕФ-3М-1”, де описано принцип роботи еліпсометра, методика вимірювання поляризаційних кутів та розрахунок відповідних оптичних параметрів. |
| Тип: | Text |
| Тип публикации: | Методичні рекомендації |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/48809 |
| Располагается в коллекциях: | Навчально-методичні матеріали кафедри фізики напівпровідників |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Жихарєв В.М. Козак М.І. Визначення оптичних констант еліпсометром.pdf | Навчально-методичний посібник з еліпсометрії | 1 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.