Please use this identifier to cite or link to this item: https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/55989
Title: Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS₂)₁₀₀₋x(SbSI)x glasses and composites on their basis
Other Titles: Спектроскопія комбінаційного розсіювання та рентгенівські дослідження стекол (GeS 2 ) 100-x (SbSI) x та композитів на їх основі
Authors: Кайнц, Діана Іванівна
Rubish, V.M.
Stefanovich, V.O.
Maryan, V.M.
Микайло, Оксана Андріївна
Shtets, P.P.
Yurkin, I.M.
Keywords: chalcogenide glasses, Raman spectra, local structure, ferroelectric, nanocomposities
Issue Date: 2014
Publisher: Фізика напівпровідників , квантова електроніка та оптоелектроніка
Citation: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics . — 2014. — Т. 17, № 1. — С. 61-66.
Series/Report no.: Том 17;
Abstract: The structure and structural changes under the isothermal annealing of (GeS2)100–x(SbSI)x (0 ≤ x ≤ 90) glasses were investigated by Raman spectroscopy and X-ray diffraction methods. The nanoheterogeneous nature of these glasses structure has been revealed. The matrix of (GeS2)100–x(SbSI)x glasses is basically built just of binary GeS4, SbS3 and SbI3 structural groups and contains a small amount of molecular fragments with homopolar Ge  Ge and S S bonds. The phase structure arising in the glass matrix at crystallization corresponds to the structure of crystalline SbSI.
Type: Text
Publication type: Стаття
URI: DOI: https://doi.org/10.15407/spqeo17.01
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/55989
ISSN: 1605-6582
Appears in Collections:Наукові публікації кафедри міського будівництва і господарства

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
v17n1-2014-p061-066.pdf1.72 MBAdobe PDFView/Open


Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.