Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс: https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/55989
Название: Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS₂)₁₀₀₋x(SbSI)x glasses and composites on their basis
Другие названия: Спектроскопія комбінаційного розсіювання та рентгенівські дослідження стекол (GeS 2 ) 100-x (SbSI) x та композитів на їх основі
Авторы: Кайнц, Діана Іванівна
Rubish, V.M.
Stefanovich, V.O.
Maryan, V.M.
Микайло, Оксана Андріївна
Shtets, P.P.
Yurkin, I.M.
Ключевые слова: chalcogenide glasses, Raman spectra, local structure, ferroelectric, nanocomposities
Дата публикации: 2014
Издательство: Фізика напівпровідників , квантова електроніка та оптоелектроніка
Библиографическое описание: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics . — 2014. — Т. 17, № 1. — С. 61-66.
Серия/номер: Том 17;
Краткий осмотр (реферат): The structure and structural changes under the isothermal annealing of (GeS2)100–x(SbSI)x (0 ≤ x ≤ 90) glasses were investigated by Raman spectroscopy and X-ray diffraction methods. The nanoheterogeneous nature of these glasses structure has been revealed. The matrix of (GeS2)100–x(SbSI)x glasses is basically built just of binary GeS4, SbS3 and SbI3 structural groups and contains a small amount of molecular fragments with homopolar Ge  Ge and S S bonds. The phase structure arising in the glass matrix at crystallization corresponds to the structure of crystalline SbSI.
Тип: Text
Тип публикации: Стаття
URI (Унифицированный идентификатор ресурса): DOI: https://doi.org/10.15407/spqeo17.01
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/55989
ISSN: 1605-6582
Располагается в коллекциях:Наукові публікації кафедри міського будівництва і господарства

Файлы этого ресурса:
Файл Описание РазмерФормат 
v17n1-2014-p061-066.pdf1.72 MBAdobe PDFПросмотреть/Открыть


Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.