Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал: https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/55989
Назва: Raman spectroscopy and X-ray diffraction studies of (GeS₂)₁₀₀₋x(SbSI)x glasses and composites on their basis
Інші назви: Спектроскопія комбінаційного розсіювання та рентгенівські дослідження стекол (GeS 2 ) 100-x (SbSI) x та композитів на їх основі
Автори: Кайнц, Діана Іванівна
Rubish, V.M.
Stefanovich, V.O.
Maryan, V.M.
Микайло, Оксана Андріївна
Shtets, P.P.
Yurkin, I.M.
Ключові слова: chalcogenide glasses, Raman spectra, local structure, ferroelectric, nanocomposities
Дата публікації: 2014
Видавництво: Фізика напівпровідників , квантова електроніка та оптоелектроніка
Бібліографічний опис: Semiconductor Physics Quantum Electronics & Optoelectronics . — 2014. — Т. 17, № 1. — С. 61-66.
Серія/номер: Том 17;
Короткий огляд (реферат): The structure and structural changes under the isothermal annealing of (GeS2)100–x(SbSI)x (0 ≤ x ≤ 90) glasses were investigated by Raman spectroscopy and X-ray diffraction methods. The nanoheterogeneous nature of these glasses structure has been revealed. The matrix of (GeS2)100–x(SbSI)x glasses is basically built just of binary GeS4, SbS3 and SbI3 structural groups and contains a small amount of molecular fragments with homopolar Ge  Ge and S S bonds. The phase structure arising in the glass matrix at crystallization corresponds to the structure of crystalline SbSI.
Тип: Text
Тип публікації: Стаття
URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): DOI: https://doi.org/10.15407/spqeo17.01
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/55989
ISSN: 1605-6582
Розташовується у зібраннях:Наукові публікації кафедри міського будівництва і господарства

Файли цього матеріалу:
Файл Опис РозмірФормат 
v17n1-2014-p061-066.pdf1.72 MBAdobe PDFПереглянути/Відкрити


Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.