Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот ресурс:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/13| Название: | Comparison of sensitivity of Ge(9)As(9)Se(82) and Ge(16)As(24)Se(60) thin films to irradiation with electron beam |
| Авторы: | Shylenko, O. Bilanych, V. Feher, A. Rizak, V. Komanicky, V. |
| Дата публикации: | 2017 |
| Библиографическое описание: | Shylenko O., Bilanych V., Feher A., Rizak V., Komanicky V. Comparison of sensitivity of Ge9As9Se82 and Ge16As24Se60 thin films to irradiation with electron beam //8th International Conference on Amorphous and Nanostructured Chalcogenides. Abstract Book/ Sinaia, Romania, July 2-5, 2017, p.37-38. |
| Серия/номер: | 8th International Conference on Amorphous and Nanostructured Chalcogenides. Abstract Book; |
| Тип: | Text |
| Тип публикации: | Тези до статті |
| URI (Унифицированный идентификатор ресурса): | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/13 |
| Располагается в коллекциях: | Наукові публікації кафедри прикладної фізики |
Файлы этого ресурса:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 2017_Romania_Sinaia_Abstract_Book_P_37-38.pdf | 2.37 MB | Adobe PDF | Просмотреть/Открыть |
Все ресурсы в архиве электронных ресурсов защищены авторским правом, все права сохранены.