Будь ласка, використовуйте цей ідентифікатор, щоб цитувати або посилатися на цей матеріал:
https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/13| Назва: | Comparison of sensitivity of Ge(9)As(9)Se(82) and Ge(16)As(24)Se(60) thin films to irradiation with electron beam |
| Автори: | Shylenko, O. Bilanych, V. Feher, A. Rizak, V. Komanicky, V. |
| Дата публікації: | 2017 |
| Бібліографічний опис: | Shylenko O., Bilanych V., Feher A., Rizak V., Komanicky V. Comparison of sensitivity of Ge9As9Se82 and Ge16As24Se60 thin films to irradiation with electron beam //8th International Conference on Amorphous and Nanostructured Chalcogenides. Abstract Book/ Sinaia, Romania, July 2-5, 2017, p.37-38. |
| Серія/номер: | 8th International Conference on Amorphous and Nanostructured Chalcogenides. Abstract Book; |
| Тип: | Text |
| Тип публікації: | Тези до статті |
| URI (Уніфікований ідентифікатор ресурсу): | https://dspace.uzhnu.edu.ua/jspui/handle/lib/13 |
| Розташовується у зібраннях: | Наукові публікації кафедри прикладної фізики |
Файли цього матеріалу:
| Файл | Опис | Розмір | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 2017_Romania_Sinaia_Abstract_Book_P_37-38.pdf | 2.37 MB | Adobe PDF | Переглянути/Відкрити |
Усі матеріали в архіві електронних ресурсів захищені авторським правом, всі права збережені.